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    產品中心PRODUCTS CENTER
    
        
        在發展中求生存，不斷完善，以良好信譽和科學的管理促進企業迅速發展
    
    

    




    
	
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    原位拉伸樣品桿
    
        
    【產品概述】PicoFemto系列透射電鏡原位拉伸樣品桿，適用于雙噴、離子減薄樣品，樣品置于拉伸基片上，手動和軟件兩種操控模式，可拉伸、可壓縮。
    
        
      
            
    • 產品型號：JST 
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    • 更新時間：2023-08-09
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    • 訪  問  量：1423
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    • 廠商性質：生產廠家
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            產品咨詢聯系我們
        
    
    
    
    
    

    
    
	
    
    
        
    產品詳情
    
        
    
                PicoFemto系列透射電子顯微鏡原位拉伸樣品桿基于高精度壓電拉伸操控，最小步長小于100nm，適用雙噴或離子減薄樣品，是研究金屬材料、納米材料、薄膜材料力學行為的重要工具。

        技術指標

                     
                拉伸指標        
            
                1.拉伸位移量：0-2mm；        
            
                2.拉伸速率：0.2um--50um/s；        
            
                3.拉伸步長：優于100nm；        
            
                4.控制方式：搖桿控制或軟件控制；        
            
                5.軟件功能：拉伸/壓縮模式、拉伸條件預設。        
        
     
        產品選型

        原位拉伸樣品桿

        澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號原位拉伸樣品桿。

                
        
    
    
    
    
    
    
    
        
    
    
    
    
    
    
    
    	
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