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    原位多場耦合樣品桿
    
        
    【產品概述】PicoFemto系列透射電鏡原位多場耦合樣品桿，結合TEM+STM+MEMS原位技術，通過更換不同類型的原位芯片及探針，在透射電鏡中實現光、電、力、熱多種原位功能。
    
        
      
            
    • 產品型號：MST 
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    • 更新時間：2023-08-09
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    • 訪  問  量：2071
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    • 廠商性質：生產廠家
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            產品咨詢聯系我們
        
    
    
    
    
    

    
    
	
    
    
        
    產品詳情
    
        
    
                PicoFemto系列透射電子顯微鏡原位多場耦合樣品桿是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統，借助該系統，研究人員可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境（包括光、電、力、熱等），從而對材料或者器件等不同類型樣品實現多重激勵下的原位表征。

        具備多種耦合方式：力-熱、力-電、光-電、光-電-力、光-電-力-熱

        技術指標

                      
                電學測量            加熱控溫        
            
                1.包含一個電流電壓測試單元；            1.溫度范圍：室溫至1000℃；        
            
                2.電流測量范圍：1nA-30mA；            2.溫度準確度：優于5%；        
            
                3.電流分辨率：100fA；            3.控溫穩定性：優于±0.1℃；        
            
                4.電壓輸出范圍：±10V，±150V；            4..軟件控制，數據自動保存。        
            
                5.軟件自動測量：I-V、I-t                     
        
     
    1648731830(1).jpg
    透射電子顯微鏡內不同溫度下的原位充放電研究
    In Situ TEM Observations of Discharging/Charging of Solid-State Lithium-Sulfur Batteries at High Temperatures
     
    doi: 10.1002/smll.202001899
     
                      
                力學操縱            光纖指標        
            
                1.探針粗細調方式：全軟件操控；            1.光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡多種方案可選；        
            
                2.粗調范圍：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm；            2.光纖快拆接口：SMA、FC等；        
            
                3.細調范圍：XY方向18um，Z方向1.5um；            3.可外接光源；        
            
                4.4.細調分辨率：XY方向0.4nm，Z方向0.04nm；            4.可外接光譜儀；        
        
     
        產品選型

        原位多場耦合樣品桿具有單傾、雙傾（JEOL）兩個版本；

        澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號樣品桿，支持定制。

        國內部分用戶
     
    北京理工大學.jpg青海大學.jpg廈門大學.jpg上海交通大學.png燕山大學.jpg浙江大學.png

         典型案例

        1、加熱芯片+電學探針-------＞透射電鏡內的原位加熱電學實驗；

        2、加熱芯片+力學探針-------＞透射電鏡內的原位高溫力學實驗；

        3、電學芯片+電學探針-------＞透射電鏡內的三端器件測量實驗；

        4、電學芯片+光纖單元-------＞透射電鏡內的電制發光現象研究；

        5、電學芯片+光纖單元-------＞透射電鏡內的原位光電現象研究。

                
        
    
    
    
    
    
    
    
        
    
    
    
    
    
    
    
    	
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