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原位光學(xué)樣品桿

【產(chǎn)品概述】PicoFemto系列透射電鏡原位光學(xué)樣品桿,基于TEM-STM樣品桿技術(shù),樣品桿內集成光纖,桿末端可外接光源或光譜儀,實(shí)現透射電鏡內的光電測量或光譜學(xué)表征研究。

  • 產(chǎn)品型號:Apollo
  • 更新時(shí)間:2024-06-19
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:3253
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家

產(chǎn)品詳情

    PicoFemto系列透射電子顯微鏡原位光學(xué)樣品桿是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,同時(shí)集成光纖單元,可外接光源或光譜儀,開(kāi)展光電測量及光譜學(xué)分析,大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領(lǐng)域。

    技術(shù)指標

電學(xué)測量 光纖指標
1.包含一個(gè)電流電壓測試單元; 1.芯徑可選,外徑250um;
2.電流測量范圍:1nA-30mA; 2.光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡多種方案可選;
3.電流分辨率:100fA; 3.光纖快拆接口:SMA、FC等;
4.電壓輸出范圍:±10V,±150V; 4.光源可選:4波段半導體激光器、波長(cháng)連續可調氙燈光源;
5.軟件自動(dòng)測量:I-V、I-t 5.光譜儀:根據用戶(hù)具體需求匹配

zhangchao nanoletter.png

Optomechanical Properties of MoSe2 Nanosheets as Revealed by InSitu Transmission Electron Microscopy

doi.org/10.1021/acs.nanolett.1c03796

Nano Lett. 2022, 22, 2, 673–679

 

    產(chǎn)品選型

    原位光學(xué)樣品桿具有單傾、雙傾兩個(gè)版本,用戶(hù)可根據實(shí)際實(shí)驗需求自行選擇。

    澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI(賽默飛)、JEOL(日本電子)、Hitachi(日立)各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號光學(xué)樣品桿,同時(shí)保證透射電鏡原有分辨率。

    國內部分用戶(hù)


    典型案例

    1、透射電鏡內的原位光電測量實(shí)驗;

    2、透射電鏡內的陰極發(fā)光(CL)實(shí)驗;

    3、透射電鏡內的原位電致發(fā)光譜實(shí)驗。

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